貼片電容測試容值時需注意的問題

貼片電容使用企業(yè)，在購入MLCC后的入庫檢驗是一個必要的流程和步驟。但是由于對疊層陶瓷貼片電容的檢驗測試條件，有些人員可能了解的不夠準確，因而導致測試結果與標稱值有偏差。南京南山在十一年來的風華高科片容銷售過程中，經(jīng)歷過多次類似偶發(fā)案例。為此南山技術部特別撰寫了關于《疊層片式陶瓷電容器電容量測試需要注意的幾個問題》，僅供參考。如有疑問，請致電400-888-5058轉技術部或登錄m.tiganxie.com.cn在線咨詢。

當用數(shù)字電橋對貼片電容的容量值進行測試時，需注意的問題：
 
一、對于不同的容值，測試條件是不一樣的。具體見下表
 
二、注意：
1、這里的電壓必須是交流，而且是恒電壓（即：當被測電容接入測試夾具開始測試時，測試儀器真正施加在該被測電容二端的電壓能恒定達到儀器所顯示的電壓值），否則就會造成測量的不準確。尤其是測量大容量在10uF以上時，影響就更加明顯。
2、選擇的測試頻率對應不同容值也是不一樣的，尤其大容量電容。由Xc=1/2∏fc可知，頻率越高對應容抗越低，由于設備內阻一定，所以頻率越高時，輸出電壓越低，測得的容值就越低。
三、特別提醒: 
     當電容容值低于1000uF時需選用并聯(lián)方式(Cp)測量，當電容容值超過1000uF時需選用串聯(lián)方
     式(Cs)測量。

南京南山半導體有限公司
2013.01.23